Le nouveau microscope électronique à balayage à pression variable équipé de spectromètres X de l'ICC
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Bulletin de l'ICC, nº 29, juin 2002
Le nouveau microscope électronique à balayage à pression variable équipé de spectromètres X de l'ICC
par Ian N.M. Wainwright, gestionnaire, Laboratoire de recherche analytique
Jane Sirois et le nouveau MEB à pression variable Hitachi S-3500N de l'ICC.
La microscopie électronique à balayage et la micro-analyse aux rayons X constituent d'importantes techniques d'analyse dans le domaine de la conservation. Elles fournissent des renseignements sur la composition, la morphologie et la structure d'une vaste gamme de matériaux et d'échantillons d'objets1 et jouent un rôle essentiel dans de nombreux projets de l'ICC.
L'Institut possède un microscope électronique à balayage (MEB) depuis 1973. On a remplacé le premier appareil en 1985 et récemment, des fonds obtenus du ministère du Patrimoine canadien ont permis de remplacer le système qu'on utilisait depuis 1985, qui commençait à prendre de l'âge. Le nouveau microscope, un MEB à pression variable Hitachi S-3500N, a été livré en mars 2002. L'ancien microscope, un Hitachi S530, a été prêté au Musée canadien de la nature où on l'utilisera dans le cadre des programmes de recherche et de participation du public du musée.
Le nouveau MEB est équipé de spectromètres X à dispersion d'énergie et à dispersion de longueur d'onde de marque Oxford Instruments, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés Robinson, d'un détecteur d'électrons secondaires en mode environnemental, d'une platine motorisée à 5 axes d'orientation et d'une platine de refroidissement. Le spectromètre X à dispersion de longueur d'onde constitue un détecteur d'éléments chimiques plus sensible et il possède aussi une meilleure résolution spectrale des rayons X que le spectromètre X à dispersion d'énergie. La combinaison des deux détecteurs assure la sensibilité, l'exactitude et la rapidité de l'analyse des éléments chimiques du tableau périodique dont le numéro atomique est égal ou supérieur à 5 (bore). Le MEB à pression variable permet aussi d'examiner des échan-tillons sans y déposer une couche conductrice, ce qui est une étape essentielle de préparation des échantillons dans le cas des MEB classiques à vide très poussé. On peut donc examiner une gamme encore plus vaste d'échantillons, y compris des objets entiers. La platine de refroidissement permet même d'étudier des échantillons humides ou visqueux.
La fabrication de ce système, ainsi que son acquisition, sa livraison et son installation, ont été couronnées de succès grâce à la collaboration des représentants des sociétés Hitachi High-Technologies Canada (Hitachi Scientific Instruments), Oxford Instruments et Canberra-Packard Canada, du personnel du ministère des Travaux publics et des Services gouvernementaux et des employés des services d'approvisionnement, des finances et des immeubles de l'ICC.
- Wainwright, I.N.M. « Microscopie électronique à balayage et micro-analyse aux rayons X à l'ICC », Bulletin de l'ICC n° 12 (septembre 1993), p. 5-7. [Aussi publié sous le titre « Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis at CCI », dans le même numéro.]
